產品名稱:場發射掃描電子顯微鏡
產品型號:Sigma 560
產品品牌:Zeiss 蔡司
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對斷裂的聚苯乙烯樣品表面進行成像,以了解聚合物界面處的裂紋形成和附著力。 Sigma 560, 3 kV,60 Pa樣品倉壓力下的NanoVP lite模式,C2D G2。
用于藥物傳遞的MSC膠囊(中空介孔二氧化硅)。背散射成像顯示了二氧化硅納米膠囊中的氧化鐵顆粒。Sigma 560,HDBSD,5 kV。
以低電壓成像的碳納米管(CNT)。Sigma 560,500 V,Inlens SE探測器。
氧化鋁(Al2O3)球體。在500 V表面信息敏感條件下高分辨率成像,可以看到燒結顆粒的表面梯度,某些梯度之間的距離僅為3 nm。Sigma 560,500 V,Inlens SE。
電池正極鋁箔顆粒表面。利用材料成分襯度識別Li-NMC上的粘合劑(較暗的材料),使用aBSD成像。
利用化學氣相沉積(CVD)技術在Si/SiO2基材上生長的MoS2?2D晶體:RISE圖像呈現出MoS2晶體的褶皺和重疊部分(綠色)、多層(藍色)及單層(紅色)結構,圖像寬度32?μm。
在1 kV高真空條件下,使用ETSE探測器輕松完成放射蟲精細鏤空結構成像,圖像寬度183 μm。
在1 kV高真空條件下對蘑菇真菌孢子成像。使用Sigma 500可以在低電壓下對這些精巧脆弱的結構輕松成像。
使用連續切面成像技術自動采集的3D大腦超微結構。星形細胞(青色)被識別和分割。
在20 kV下使用YAG-BSD成像的巖石樣品,由于YAG晶體的光傳導性能可高速采集圖像。
硫化鎳礦石。礦物EDS面分布圖,圖像寬度3.1 mm。樣品由英國萊徹斯特大學提供。
鐵礦石礦物分析:鐵礦石礦物的拉曼光譜分析,掃描電子顯微鏡圖像和拉曼圖疊加。(赤鐵礦為紅色、藍色、綠色、橙色和粉紅色;針鐵礦為淡藍色)。
鐵礦石礦物分析,拉曼光譜:赤鐵礦光譜的差異表征了其晶體取向的不同。(赤鐵礦為紅色、藍色、綠色、橙色和粉紅色;針鐵礦為淡藍色)。
含石榴石片麻巖的定量EDS主要元素熱圖(Ca),突出了關鍵礦物中的地球化學分區。
在40?Pa可變壓力模式下,使用C2D探測器輕松完成對顏料和遮光劑用非導電二氧化鈦顆粒的成像,圖像寬度10?μm。
在20 kV的暗場模式下,使用aSTEM探測器對25 – 50 nm氧化鐵顆粒成像。
在1 kV下使用aBSD對超導合金樣品成像。(比例尺20 μm)
氧化鋅枝晶:檢測儲能系統電極的形態變化。Sigma,ETSE,5 kV。